Изаберите своју земљу или регион.

Garancija kvaliteta

Testiranje delova od strane IC-Components uključuje

HD vizuelna inspekcija
Testiranje izgleda visoke definicije uključujući sito štampu, kodiranje, detekciju kuglica lema visoke definicije, čime se može utvrditi da li su delovi oksidirani i da li su originalni.
Završno funkcionalno testiranje
Tokom funkcionalnog testa, nivoi napona izlaznih signala sa DUT-a upoređuju se sa referentnim nivoima VOL i VOH pomoću funkcionalnih komparatora. Izlaznom strob signalu se dodeljuje vremenska vrednost za svaki izlazni pin kako bi se kontrolisao tačan trenutak u okviru testnog ciklusa za uzorkovanje izlaznog napona.
Test otvorenog/kratkog spoja
Test otvorenog/kratkog spoja (takođe nazvan test kontinuiteta ili kontakta) potvrđuje da je tokom testiranja uređaja ostvaren električni kontakt sa svim signalnim pinovima na DUT-u i da nijedan signalni pin nije u kratkom spoju sa drugim signalnim pinom ili napajanjem/masom.
Testiranje funkcije programiranja
Ispitivanje funkcija čitanja, brisanja i programiranja, kao i provera praznog stanja čipova uključujući digitalne memorije, mikrokontrolere, MCU i slično
X-RAY i ROHS test
X-RAY može potvrditi da li su vafl, žičano povezivanje i povezivanje čipa ispravni; ROHS test se vrši putem provere ekološke usklađenosti pinova proizvoda i sadržaja olova u sloju lema pomoću fotonaponske opreme
Hemijska analiza
Originalnost proizvoda je potvrđena hemijskom analizom

Scene iz test laboratorije